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高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀

簡要描述:中圖儀器SJ5900高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的高精度光學曲面測量儀。它采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高穩(wěn)定性氣浮隔震系統、高性能計算機控制系統技術,實現對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。

  • 更新時間:2024-07-24
  • 產品型號:SJ5900-100
  • 廠商性質:生產廠家
  • 訪  問  量:724

詳細介紹

品牌CHOTEST/中圖儀器價格區(qū)間面議
產地類別國產應用領域環(huán)保,電子,交通,汽車,綜合

中圖儀器SJ5900高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀是一款集成表面粗糙度和輪廓測量的高精度光學曲面測量儀。它采用超高精度納米衍射光學測量系統、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅動系統、高穩(wěn)定性氣浮隔震系統、高性能計算機控制系統技術,實現對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。

高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀

專業(yè)為非球面鏡片的大曲面測試,通過高穩(wěn)定性的氣浮隔震系統保證儀器不受外界振動影響,計算機采用高精度標定系統對采樣數據進行修正標定,最終還原出工件輪廓信息并以曲線圖顯示出來,通過軟件提供的分析工具可對輪廓及微觀輪廓進行非球面參數分析、各種粗糙度參數、輪廓參數分析。


測量功能

1.非球面基本參數輸入功能:凸凹形狀、R-頂點半徑、K-圓錐常數,多次項常數:A1、A2…A40等;

2.非球面參數測量評定:微觀輪廓參數Pt、Pa、Fig;傾角參數Smn、Smx;水平軸線夾角Tilt;光軸與輪廓的距離參數Xp、Xv、Xt;均方根粗糙度參數RMS;斜率參數Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave;勾選優(yōu)化半徑后計算頂點半徑誤差參數Radius Err等。

3.表面粗糙度評定: R參數、P參數、W參數、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數。

4.支持輪廓分析功能:創(chuàng)建坐標、量測工具、構建特征、可測幾何量、形位公差等功能。

5.SJ5900高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀具備自動找拐點功能,能按照程序設置進行X軸自動找拐點。

高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀

產品優(yōu)勢

nm級高精密光學曲面測量

1.具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,分辨率高達0.1nm,系統殘差小于3nm。

2.高穩(wěn)定性的隔震系統,自帶隔震氣浮系統,外界的噪聲及其他氣流通過儀器的玻璃罩進行了隔離,能確保高精度高穩(wěn)定度的測量特殊的光學元器件表面輪廓及粗糙度參數。

3.超高直線度研磨級摩擦導軌、特殊紅寶石轉軸系統提供轉動的超高靈敏度及測量精度。

4.高穩(wěn)定的驅動設計,確保了驅動運行過程中不產生任何的振動及干擾,保障了系統掃描運動精度。

5.專用標定器能對儀器的參數和測針針尖磨損進行修正補償,使其滿足高精度輪廓測量。

非球面光學測量與分析軟件系統

1.超智能的非球面光學軟件分析系統,專業(yè)定制的非球面測量軟件系統,非球面全參數都能測量。

2.根據GB/T、ISO、JIS等標準,自動評價粗糙度。

3.對于簡單的工件只需要設置測量長度即可一鍵測量。

對于復雜的工件,可以工件的任意位置進行分段測量,并做成模板便于輪廓批量測量。

4、CNC固定坐標系模式下,可快速精確地進行輪廓批量測量。

5.自動保存測量結果,測量完成后可輸出測量報告,形式多樣。

6.軟件操作界面簡潔直觀,任何人都能輕松設定和測量。

智能靈活儀器操縱設計

1.測針一鍵拔插,特殊設計的高剛性拔插結構,無需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠。

2.智能微測力系統,0.5-3mN 測力檔位可調,可滿足不同工件表面測量要求,特別是光學鏡片。

3.各個運動軸都有進行硬件及軟件保護,降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。

4.帶舵機結構,可防止掃描陡坡時的快速下墜。

5.組合調節(jié)控制手柄可快速完成載物臺平移,X軸和Z軸定位,測桿上下擺動及速度分級調節(jié)功能。

6.電動Y軸臺,可實現單獨Y軸、XY軸組合自動找拐點,減少人工找拐點帶來的誤差。


SJ5900光學曲面測量儀廣泛應用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業(yè)。該儀器可以對零件表面,尤其是大范圍曲面,如圓弧面和球面、異型曲面等進行檢測,可分析出非球面參數、多種粗糙度參數、微觀輪廓度參數。是大曲面測量(光學鏡片、光學精密模具、軸承、人工關節(jié)、齒輪、葉片)領域精細粗糙度測量的利器。

高精度光學曲面粗糙度輪廓測量儀

部分技術規(guī)格

型號SJ5900-100



輪廓參數


測量范圍

X:0~100mm
立柱:0~300mm
Z:±6mm(標準測針桿)(±12mm:選擇兩倍測針桿時)
掃描速度0.05~5mm/s
測量力0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(電子檔位可調)











粗糙度參數

適用Ra測量范圍Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍)
示值誤差

Ra0.012μm ~ Ra3.2μm: ≤±(3nm+2.0%A)(A:測量Ra標稱值,μm)

Ra3.201μm ~ Ra12.5μm: ≤±(3nm+3.5%A)(A:測量Ra標稱值,μm)

非球面測量參數

微觀輪廓參數:Pt、Pa、Fig;

傾角參數:Smx、Smn;

水平軸線夾角參數:Tilt;

光軸與輪廓的距離參數:Xp、Xv、Xt;

均方根粗糙度參數:RMS;

斜率參數:Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave;

頂點半徑誤差參數:Radius Err。

粗糙度測量參數

R粗糙度:

Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ;

核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo;

P輪廓參數:

Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax;

W波紋度輪廓參數:

Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc;

Motif參數:R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte;

符合標準:

GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002,

DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994,

JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002

如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。

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