詳細介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 綜合 |
中圖儀器SJ5180高精度激光測長機將激光應用在接觸式測長機測量上是一種高精度的長度測量方式。該產品具有精度高、使用方便、功能強等優點,能夠檢定精密量具、精密量規,如塊規、環規、塞規、卡規、螺紋規、花鍵規、表類、尺類。還可以檢測各種精密工件內外尺寸,如齒輪、花鍵、校對棒、非標量規等,具有通用性強的特點。
操作者裝好被測件,在檢測軟件上選擇被測件的標準和輸入被測件的規格等參數后,移動頭座接觸被測件,調整五軸工件平臺及頭尾座找到拐點,采樣完成得到當前測量數據,系統可以實時顯示測量結果,自動計算出被測件的各項參數(如檢測螺紋規,則可換算顯示出螺紋中徑),并根據系統內置的標準數據庫對被測件的各項參數進行合格判定,整個測量過程不超過3分鐘,檢測結束后自動生成檢定結果。
1、標配功能:
(1)檢測量塊&塊規:(0.1~1000mm);
(2)光滑環規:φ5~φ200mm(壁厚≤50 mm,高度≤50mm)、光滑塞規:φ1~φ220mm;
(3)螺紋環規:M5~M200(螺距0.8~4mm)
(4)螺紋塞規:M1~M220(螺距0.25~5.5mm);
(5)光滑卡規:內卡5~200mm,外卡1~300mm
(6)千分尺校對桿:25~1000mm;
(7)塞尺:0.02~1mm
(8)針規:φ0.1~φ10mm
(9)三針:0.118~6.585mm;
(10)兩點內徑千分尺:25~1000mm;
2、可選配功能:
(1)小型光滑環規:φ0.8~φ5mm;
(2)螺紋環規:規格M3~M4(螺距0.5~0.7mm)、M200~M450(螺距4.5~6mm);
(3)光滑錐度環規:φ5~φ200mm(厚度≤50mm);
(4)光滑錐度塞規:φ5~φ60mm(長度10~100mm);φ60~φ200mm(長度≤50mm);
(5)螺紋錐度環規:M5~M200mm(厚度≤50mm);
(6)螺紋錐度塞規:M5~M60mm(長度10~100mm);M60~ M200mm(長度≤50mm);
(7)鋸齒螺紋、梯形螺紋:M3~M450(螺距0.5~6mm);
(8)花鍵環塞規/花鍵及標準齒輪(跨棒距測量):內φ10~φ450mm,外φ5~φ450mm,模數0.8~6mm;
(9)外徑千分尺示值誤差手動校準:25~1000mm;
(10)數顯及游標卡尺示值誤差手動校準:75~1000mm;
(11)深度千分尺示值誤差手動校準:0~25、25~50、50~75mm;
(12)三爪內徑千分尺手動校準:φ6~φ200mm;
(13)表類(百分表、千分表、杠桿表手動校準);
(14)數顯半徑規手動校準:R5~R700mm;
(15)軸承內外圈錐度、溝槽底徑內外徑及溝槽寬度、精密零部件的長度尺寸,內外徑尺寸測量;
型號 | SJ5180-1000 | |
測量范圍 | 外尺寸 | 直接:0~1020mm |
內尺寸 | 比對:5~900mm | |
示值誤差 | ≤±(0.2+L/1000)μm,其中:L為被測長度,單位:mm | |
重復性(2S) | 0.15μm | |
內尺寸測量重復性(2S) | ≤0.3μm(使用大小測鉤)≤0.4μm(使用內尺寸測量裝置) | |
分辨力 | 0.01μm | |
測力 | 0.1N、0.3N、0.5N、1~10N手動連續可調 | |
測量中徑 | 環規200mm 、塞規250mm | |
儀器尺寸 | 2000mm×400mm×450mm | |
儀器重量 | 180㎏ | |
五軸工作臺 | 型號 | ST-30.1(標配) |
Z軸 | 0~50mm | |
Y軸 | ±25mm | |
Z軸浮動 | ±10mm | |
Z軸旋轉 | ±3° | |
Y軸擺動 | ±3° | |
負載 | 50kg | |
臺面尺寸 | 350mm×125mm |
SJ5180高精度激光測長機高精度、高穩定性:
1)高精度激光測量系統,線性測量精度達到0.5PPM,分辨力達到0.01μm,測量精度高;
2)精密研磨導軌系統,導軌直線度高,導軌材料耐磨性好、保證系統高精度穩定可靠的工作;
3)進口特殊材料制作的高剛性、無變形測桿,保證測試數據的真實采集;
4)采用大理石基座,保證了在頭座及五軸工作臺的移動過程中不會產生變形以及儀器不受外界震動干擾,保證了儀器的穩定可靠;
5)采用緊湊型摩擦驅動結構,保證了頭座移動過程中的穩定性。
高性能五軸工作臺:
(1)X,Y,Z三軸采用高性能交叉滾子導軌:摩擦力極小,穩定性好,承載高;
(2)Y軸平移、傾斜、水平旋轉設計了高調節細度的結構,方便客戶更好地找到三個軸的拐點;
(3)Z軸可配置數顯裝置,用于螺距顯示。
高性能螺紋環規測量裝置:
配置高性能螺紋環規測量裝置,可測量小螺紋環規,同時可完成極小的光滑環規檢測;測量力為電子測力,由軟件選擇測力大小;
參考環境溫度:(20±1)℃以內,溫度變化不超過0.2℃/h。
相對濕度控制在20%~60%。
校準室內應無影響測量的灰塵、震動、噪音、氣流、腐蝕性氣體和較強磁場。
校準實驗室應符合精密儀器實驗室振動等級標準,環境振動≤0.03mm/s;
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