簡(jiǎn)要描述:對(duì)于測(cè)量精度高的零件,CHS452光學(xué)影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x可增加探針傳感器配置,這相當(dāng)于一臺(tái)小的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x,即為復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x,在需要測(cè)量高度的地方,用探針取元素(點(diǎn)或面),然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度;或運(yùn)用影像測(cè)量?jī)x軟件中的Z軸自動(dòng)對(duì)焦功能,測(cè)量得出高度;也可以通過(guò)搭載光譜共焦測(cè)頭,進(jìn)行非接觸式高度測(cè)量,平面度測(cè)量,針對(duì)鏡面和光滑斜面均可測(cè)量,比三角激光測(cè)量范圍更廣。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | CHOTEST/中圖儀器 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,航天,汽車(chē),電氣 |
CHS452光學(xué)影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x支持觸發(fā)測(cè)頭和光學(xué)測(cè)頭,進(jìn)行高度、平面度測(cè)量,實(shí)現(xiàn)3D空間測(cè)量。
對(duì)于測(cè)量精度高的零件,CHS452光學(xué)影像坐標(biāo)測(cè)量?jī)x可增加探針傳感器配置,這相當(dāng)于一臺(tái)小的三座標(biāo)測(cè)量?jī)x,即為復(fù)合式影像測(cè)量?jī)x,在需要測(cè)量高度的地方,用探針取元素(點(diǎn)或面),然后在軟件內(nèi)計(jì)算高度;或運(yùn)用影像測(cè)量?jī)x軟件中的Z軸自動(dòng)對(duì)焦功能,測(cè)量得出高度;也可以通過(guò)搭載光譜共焦測(cè)頭,進(jìn)行非接觸式高度測(cè)量,平面度測(cè)量,針對(duì)鏡面和光滑斜面均可測(cè)量,比三角激光測(cè)量范圍更廣。
光學(xué)影像測(cè)量?jī)x有放大作用,可作長(zhǎng)度、角度、形狀、表面等檢驗(yàn)工作。屬非接觸式、二次元測(cè)量, 尤其適合彈性、脆性材料的測(cè)量。除可利用照相、二次元坐標(biāo)處理機(jī)、數(shù)字顯示器、光眼讀取數(shù)據(jù)或自動(dòng)尋邊器、打印機(jī)等接口設(shè)備,還有可用與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)以達(dá)迅速、確實(shí)及統(tǒng)計(jì)分析等優(yōu)點(diǎn)。CHS452影像儀被廣泛應(yīng)用于大型鈑金件、背光板、絕緣材料、面版、邊框行業(yè)、塑膠制品、五金、模具、手機(jī)外殼、電子、銘牌、陶瓷、絕緣材料等領(lǐng)域,實(shí)現(xiàn)了大批量快速檢測(cè)。
1、影像儀掃描工件時(shí)注意避光。
2、注意測(cè)頭的運(yùn)動(dòng)方向,防止影像測(cè)量?jī)x移動(dòng)過(guò)程中測(cè)頭撞上工件。
3、掃描工件時(shí),請(qǐng)勿觸動(dòng),否則影響二次元影像儀掃描結(jié)果。
4、掃描工件時(shí),被影像儀掃描面不能過(guò)于傾斜,否則測(cè)量不準(zhǔn)。
5、掃描結(jié)束后,注意關(guān)閉影像儀激光。
6、關(guān)機(jī)時(shí),請(qǐng)先關(guān)影像儀掃描軟件,再關(guān)控制箱。
1、先開(kāi)影像儀控制箱電源,再啟動(dòng)掃描軟件。
2、將影像儀工作臺(tái)上的雜物清理干凈,再進(jìn)行影像儀設(shè)備歸零,防止測(cè)頭發(fā)生碰撞。
3、請(qǐng)勿將過(guò)重的物體擺放于轉(zhuǎn)臺(tái)上,以致?lián)p壞影像儀轉(zhuǎn)臺(tái)。
4、禁止將工件固定在影像儀轉(zhuǎn)臺(tái)上噴涂反差劑。
5、影像儀工作臺(tái)運(yùn)動(dòng)時(shí)盡量避免急停。
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