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CEM3000系列高性價比國產掃描電鏡是一款用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析的緊湊型設備。不同于立式電鏡，CEM3000系列臺式掃描電鏡無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

VT6000共聚焦超高分辨率表面分析顯微鏡以轉盤共聚焦光學系統為基礎，結合高穩定性結構設計和3D重建算法，所展示的圖像形態細節更清晰更微細，橫向分辨率更高。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測，可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數。

中圖儀器chotest白光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等，可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數。

CEM3000系列國產臺式電鏡空間分辨率出色和易用性強，用戶能夠非常快捷地進行各項操作。甚至在自動程序的幫助下，無需過多人工調節，便可一鍵得到理想的拍攝圖片。無需占據大量空間來容納整個電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶日常工作的桌面上，在用戶手邊實時呈現所得結果。

中圖儀器國內高抗振性臺式掃描電鏡CEM3000系列用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設計，在充滿機械振動和噪音的工業環境中依舊穩如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像；還運用了快速抽放氣設計，讓用戶在使用時不再等待，且全系列可選配低真空系統，以便精準調節樣品倉內真空度，滿足不同樣品的觀測需求。

NS系列涂層薄膜測量臺階儀是利用光學干涉原理，通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度，具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優點。它可以測量各種材料的膜層厚度，包括金屬、陶瓷、塑料等。

CEM3000毫米級超大景深桌面掃描電鏡具有出色的電子光學系統，優于4nm的空間分辨率，保證了高放大倍數下的清晰成像，用于對樣品進行微觀尺度形貌觀測和分析，能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。其抗振設計，在充滿機械振動和噪音的工業環境中依舊穩如泰山，拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

VT6000高分辨率成像共聚焦顯微鏡以共聚焦技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。橫向分辨率高，所展現的放大圖像細節要高于常規的光學顯微鏡。更擅長微納級粗糙輪廓的檢測。