產(chǎn)品分類(lèi)
Product CategorySuperView W1三維輪廓測(cè)量?jī)x基于白光干涉原理,不僅用于零件的檢測(cè),還是一種在生產(chǎn)中用于檢測(cè)軋制產(chǎn)品表面缺陷的設(shè)備,能完成缺陷尺寸的在線檢測(cè)。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
SuperView W1系列三維表面形貌儀是以白光干涉技術(shù)為原理,獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。集合了相移法PSI的高精度和垂直法VSI的大范圍兩大優(yōu)點(diǎn),適用于從超光滑到粗糙、平面到弧面等各種表面類(lèi)型,讓3D測(cè)量變得簡(jiǎn)單。
SJ5760表面輪廓測(cè)量?jī)x是專(zhuān)門(mén)用來(lái)檢測(cè)經(jīng)機(jī)械加工后工件的表面粗糙度、表面輪廓的機(jī)電一體化精密測(cè)量?jī)x器,能夠滿(mǎn)足軸承行業(yè)所有的測(cè)量需求,具備軸承輪廓度評(píng)價(jià)功能,是大曲面測(cè)量領(lǐng)域精細(xì)粗糙度測(cè)量的利器。
中圖儀器表面輪廓測(cè)量?jī)x廠家是高新技術(shù)企業(yè),十多年發(fā)展以來(lái)一直堅(jiān)持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ),致力于精密測(cè)量、計(jì)量檢測(cè)等儀器設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售。如今產(chǎn)品已廣泛應(yīng)用于計(jì)量質(zhì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)、汽車(chē)、航空航天、機(jī)械制造、半導(dǎo)體加工、3C電子等行業(yè)。
SJ5760-PR輪廓度測(cè)量?jī)x檢測(cè)物件表面粗糙度和輪廓,采用進(jìn)口高精度光柵測(cè)量系統(tǒng)、高性能計(jì)算機(jī)控制系統(tǒng)技術(shù)、高精度研磨導(dǎo)軌,*被測(cè)件測(cè)量精度要求。并且針對(duì)同類(lèi)型大批量的工件,能進(jìn)行掃描測(cè)量,將數(shù)據(jù)進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)。
中圖儀器研發(fā)生產(chǎn)的光學(xué)三維表面形貌儀價(jià)格實(shí)惠,提供二維分析、三維分析、表面紋理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、體積、角度計(jì)算、曲率計(jì)算、模擬一維分析、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)自動(dòng)動(dòng)態(tài)存儲(chǔ)、自定義數(shù)據(jù)顯示格式等功能。
SuperView W1三維表面輪廓測(cè)量?jī)x可一鍵分析和多文件分析,分析模板結(jié)合測(cè)量中提供的自動(dòng)測(cè)量和批量測(cè)量功能,可以實(shí)現(xiàn)小尺寸精密器件的批量測(cè)量并直接獲取分析數(shù)據(jù)。是實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。可測(cè)從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
中圖三維光學(xué)表面輪廓儀品牌采用白光軸向色差原理,利用白光干涉掃描技術(shù)為基礎(chǔ)制成的SuperViewW1是一種用于對(duì)樣品表面進(jìn)行快速、重復(fù)性高、高分辨率的三維檢測(cè)的精密儀器,它的特點(diǎn)是可以達(dá)到納米級(jí)的檢測(cè)精度。測(cè)量范圍從納米級(jí)粗糙度到毫米級(jí)的表面形貌,可以快速獲取數(shù)據(jù)進(jìn)行檢測(cè),主要用于成品質(zhì)量的管理,確保良品合格率。
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